Испытательная камера низкого и высокого давления при низких и высоких температурах используется в авиации, космонавтике, информации, электронике и других областях. Адаптируемость к окружающей среде и надежность приборов, электротехнических изделий, материалов, деталей и оборудования в условиях низкого атмосферного давления, высокой температуры, низкой температуры или высокой и низкой температуры и низкого давления. Секс-тест и/или испытательные образцы одновременно для измерения электрических параметров.
Соответствие стандартам:
1.GB/T 11159-2008: технические условия камеры для испытаний при низком давлении
2.GB/T 2423.25-2008: комплексный метод испытаний для низкого/низкого давления
3.GB/T 2423.26-2008: комплексный метод испытаний при высокой температуре/низком давлении
4. MIL-STD-810F-501.4 Испытание при высокой температуре
5. MIL-STD-810F-502.4 Испытание при низкой температуре
6. MIL-STD-810F-500.4 Низкое давление (высота над уровнем моря)
7.IEC60068-2-13 Низкое давление
8.GJB 360A-2009: методы испытаний электронных и электрических компонентов 105 требований к испытаниям при низком давлении
9. GB/T 5170.2-2008: метод испытаний для оборудования для испытаний на воздействие окружающей среды электрических и электронных изделий Температурный тест оборудование
10.GB/T 5170.10-2008: методы испытаний оборудования для испытаний на воздействие окружающей среды электрических и электронных изделий, испытательное оборудование при высоких и низких температурах и низком давлении
