Лазерный конфокальный микроскоп OLS5000 точно измеряет шероховатость формы и поверхности на субмикронном уровне. Сбор данных, который в четыре раза быстрее, чем наша предыдущая модель, значительно повышает производительность.С помощью этого клонфокального лазерного сканирующего микроскопа можно легко создавать бесконтактные, неразрушающие 3D-наблюдения и измерения.
Точное изображение с высоким разрешением
Благодаря возможности выполнять точные трехмерные измерения на широком диапазоне типов образцов, система предоставляет надежные данные для обеспечения качества и технологического контроля.
Превосходное латеральное разрешение
Фиолетовый лазер 405 нм и специальные светосильные объективы позволяют фиксировать мелкие узоры и дефекты, которые обычные оптические микроскопы, интерферометры белого света или микроскопы на основе красного лазера не могут обнаружить.
Стабильные значения измерений
Специальные объективы LEXT способны с высокой точностью выполнять измерения на периферийных зонах, которые зачастую искажаются.
Технология сканирования 4K
Технология 4K сканирования поддерживает разрешающую способность 4 096 пикселей. Микроскоп OLS5000 может выявлять почти вертикальные уклоны, а также мельчайшие возвышения без необходимости коррекции изображения.
Измерение истинной формы
Поскольку в обычных лазерных микроскопах используются стандартные методы обработки изображений (такие как сглаживание, для устранения шума) иногда вместе с шумом могут быть удалены точно измеренные незначительные перепады высоты.
Микроскоп OLS5000 использует алгоритм Olympus Smart Judge для автоматического обнаружения только достоверной информации, облегчая точные измерения без потери данных о перепадах высоты.
Простота использования
Система оснащена автоматическим сбором данных, поэтому сложные настройки больше не нужны. Даже с минимальным обучением пользователь может получить точные результаты.
Экономьте время с помощью шаблонов
Все операции и процедуры, включенные в отчет, могут быть сохранены в виде шаблона. Использование этого шаблона при повторении тех же измерений позволяет получить отчет об анализе следующего набора данных, который применяет те же процедуры. Возможность задавать операции обработки и точки измерения без вмешательства оператора обеспечивает быстрый и точный анализ с минимальными отклонениями.
Совместимость с образцами высотой до 210 мм
Удлиняемая рама для микроскопа OLS5000 вмещает образцы высотой до 210 мм, а объектив с очень большим рабочим расстоянием облегчает измерение вогнутостей до 25 мм. В обоих случаях, все что от вас требуется – это поместить образец на предметный столик.
Технические характеристики Olympus LEXT OLS5000:
| Общий коэффициент увеличения | 54x — 17280x |
| Поле обзора | 16 мкм — 5120 мкм |
| Принцип измерения | Оптическая система: Отражательный конфокальный лазерный сканирующий микроскоп Отражательный конфокальный лазерный сканирующий ДИК-микроскоп Цвет Цвет-ДИК Фотодетектор: Лазер: Фотоумножитель (2-канальный) Цвет: Цветная камера с КМОП-матрицей |
| Измерение высоты | Разрешение экрана: 0,5 нм Динамический диапазон: 16 бит Воспроизводимость σn-1: 5X：0,45 мкм, 10X：0,1 мкм, 20X : 0,03 мкм, 50X : 0,012 мкм, 100X : 0,012 мкм Погрешность: 0,15+L/100 мкм (L: измеряемая длина [мкм]) Погрешность для сшитого изображения: 10X：5,0+L/100 мкм, 20X или больше : 1,0+L/100 мкм (L: длина сшивки [мкм]) Помехи при измерении (Sq): 1 нм |
| Измерение ширины | Разрешение экрана: 1 нм Воспроизводимость 3σn-1: 5X : 0,4 мкм, 10X : 0,2 мкм, 20x : 0,05 мкм, 50X : 0,04 мкм, 100X : 0,02 мкм Погрешность: Значение измерения +/- 1,5 % Погрешность для сшитого изображения |
| Максимальное количество точек измерения в одном измерении | 4096 x 4096 пикселей |
| Максимальное количество точек измерения | 36 мегапикселей |
| Источник лазерного излучения | Длина волны: 405 нм Максимальная выходная мощность: 0,95 мВт Класс лазера: Класс 2 (IEC60825-1:2007, IEC60825-1:2014) |
| Источник цветного света | Белый светодиод |
