Инспекционный микроскоп NIKON ECLIPSE L300N/L300ND

Категория:
Производитель:

Получить расчет

    L300N — Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении.
    L300ND — Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом и диаскопическом освещении.

    Функции и рабочие характеристики

    • Микроскоп L300ND позволяет осуществлять наблюдения при диаскопическим освещении с использованием различных методик: светлое и темное поле, простая поляризация и DIC (дифференциально-интерференционный контраст). Кроме того, имеется возможность осуществления эпифлуоресцентной микроскопии, в том числе с применением УФ-возбуждения при длине волны 365 нм.
    • Высокая эффективность микроскопии полупроводников и органического электролюминесцентного материала.

    Тринокулярный тубус с регулируемым углом наклона позволяет осуществлять наблюдение на оптимальном для наблюдателя уровне.

    Контроль прецизионного движения по оси X-Y

    • Прецизионное устройство управления движением по оси X-Y размещается вблизи оператора.
    • Все устройства управления располагаются рядом друг с другом, что облегчает перемещение предметного стола и выполнение фокусировки.

    Универсальная револьверная головка с ручным переключением

    • Возможность установки до 6 объективов.
    • Центровка позволяет свести к минимуму смещение изображения при смене объектива даже при работе с большим увеличением. Изображение остается стабильным при любом увеличении.
    • Защитный механизм, который активируется при повороте револьверной головки, защищает глаз оператора от воздействия вспышки.

    Мишени для фокусировки
    Возможность установки фокусировочной мишени в оптическом пути позволяет легко и точно сфокусировать систему на образец с низкой контрастностью, например, на полупроводниковую пластину.

    Управление вынесено на переднюю панель

    • Основные органы управления размещаются на передней панели микроскопа, что облегчает доступ к ним.
    • Можно быстро управлять микроскопом не отрываясь от просмотра образцов.

    Программное обеспечение NIS-Elements для обработки изображений
    Блок DS-U3 для управления камерой, периферийным оборудованием и микроскопом при помощи программного обеспечения NIS-Elements.

    Получение, обработка и анализ высококачественных изображений

    Интерактивные измерения — NIS-Elements позволяет измерять различные параметры, в том числе расстояние, площадь, радиус и угловой профиль. Результаты могут сохраняться в формате Excel.

    Совмещение больших изображений — Составление изображений большой площади с высоким разрешением обеспечивается посредством совмещения прилегающих изображений с высоким разрешением.

    EDF (Увеличенная глубина фокусировки) — Позволяет объединить изображения, полученные с разных положений по оси Z для создания виртуального 3D-изображения.

    Автоматические измерения — Около 80 различных автоматических функций для измерения параметров объекта и поля обзора — длины, площади, плотности, цвета RGB.

    Классификатор — обеспечивает сегментацию пикселей изображения в соответствии с различными условиями, определяемыми пользователями, и основывается на различных свойствах пикселей, таких как интенсивность, цвет RGB, HSI и HS.

    Технические характеристики NIKON ECLIPSE L300N/L300ND:

    Модель ECLIPSE L300N (эпископическое освещение) ECLIPSE L300ND (эпископическое и диаскопическое освещение)
    Корпус Встроенный источник питания с галогенной лампой 12 В-50 Вт; Моторизированное управление револьверной головкой, контроль яркости освещения, управление апертурной диафрагмой
    Револьверная головка: моторизированная универсальная на шесть объективов с функцией центрирования
    Переключение между эпископическим и диаскопическим режимами
    Механизм фокусировки Ход фокусировки: 29 мм
    Грубая фокусировка: 12,7 мм/об. (регулировка усилия, имеется механизм рефокусировки)
    Точная фокусировка: 0,1 мм/об. (шаг 1 мкм)
    Эпископический осветитель Встроенная галогенная лампа 12 В-50 Вт
    Моторизированная апертурная диафрагма (с возможностью центровки). Фиксированная диафрагма осветителя микроскопа (с мирой)
    Направляющая с диафрагмой (поставляется отдельно), четыре фильтра ?25 мм (NCB11, ND16, ND4), с возможностью установки поляризатора и анализатора
    Наблюдение по методу: светлого поля, темного поля, простой поляризации, эпифлуоресценции, ДИК (дифференциально-интерференционный контраст)
    Диаскопический осветитель Встроенная галогенная лампа12 В-50 Вт
    Встроенная апертурная диафрагма
    Встроенный LWD-конденсор
    Интерфейс USB x 1, RS232C (для Intensilight) x 1
    Окулярные тубусы L2-TT2A — наклонный тринокулярный тубус (угол наклона: 0-30°) с прямым изображением и полем зрения 25 мм, коэф.разделения пучка 100:0/20:80
    L2-TTA — наклонный тринокулярный тубус (угол наклона: 0-30 °) с прямым изображением и полем зрения 25 мм, коэф.разделения пучка 100:0/0:100
    LV-TI3 тринокулярный (с прямым изображением, поле зрения 25 мм)
    Окуляры Линзы окуляров серии CFI
    Объективы CFI TU Plan Fluor
    Предметные столики Столик 14×12, перемещение: 354 x 302 мм (диапазон диаскопических наблюдений: 354 x 268 мм)
    Возможность грубого и точного перемещения
    Контроль перемещения по оси X-Y (с фиксированным положением)
    Антистатический механизм 1000-10 В, в теч. 0,2 сек
    Энергопотребление 1,2 A/90 Вт
    Габариты Примерно 360 (Ш) x 951 (Д) x 581 (В) мм (при угле наклона 10°)
    Вес Около 45 кг (только станина) Около 64 кг (с использованием предметного столика 14×12 и окулярного тубуса L2-TTA)