Профилометр NIKON BW-D500

Инспекционные микроскопы Nikon предназначены для изучения поверхности полупроводниковых пластин, печатных плат и электронных компонентов. Объектив расположен над поверхностью образца. Поэтому важнейшим параметром является рабочее расстояние объектива, позволяющее изучать элементы, расположенные на разной высоте. Для наблюдения мелких деталей и незначительных различий используется метод темного поля, позволяющий регистрировать только свет, рассеянный образцом.

Особенности:

• Бесконтактный метод
• Разрешение по высоте до 1 пикометра
• Двулучевая интерференция
• Сканирование столом по XY, пьезо сканер по Z
• Определение толщины покрытия

Две модели:

• BW-S500 с камерой высокого разрешения 2046х2046 пикс
• BW-D500 с высокоскоростной камерой до 2000 к/с

6 комплектов с разной степенью моторизации.

После сканирования доступен анализ профиля поверхности и шероховатости Ra, Rq, Rz, Sa, Sq, Sz.

Объективы с уникальной оптикой CF
Знаменитая оптика Nikon успешно сочетает в себе большие рабочие расстояния и высокие числовые апертуры и позволяет получать четкие изображения без аберраций независимо от кратности объектива.

Технические характеристики NIKON BW-D500: